| 质谱校准的方面 |
| US11261440 2005-10-28 发明授权 |
| 2008-3-25 |
| 一种用于校准和分析来自质谱仪的数据的方法，包括以下步骤 : 获取包含具有或不具有同位素的离子的质谱响应的原始轮廓模式数据； 基于元素组成计算至少一种校准离子中的每一种的理论同位素分布； 将理论同位素分布与初始峰值形状函数进行卷积，以获得每个离子的理论同位素分布； 构建包括用于校准离子的理论同位素分布作为峰值分量的峰值分量矩阵； 执行所述原始轮廓模式质谱数据与所述峰值分量矩阵之间的回归分析； 以及将回归系数报告为每个组分的相对浓度。 一种根据该方法操作的质谱系统和其上具有用于执行该方法的程序代码的计算机可读介质。 |
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