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使用源的伪随机阵列的分析仪器，例如微机械加工质谱仪或单色仪

US10502842 2005-1-18 发明申请

2005-6-2

本发明公开了使用伪随机序列在伪随机源阵列中空间排列多个源的新颖方法和结构。所述伪随机源阵列可以替代依赖于样品或源发射的探针粒子/波的空间分离的分析仪器中的单个源。在该伪随机源阵列中的大量源增强了位置敏感检测器上的信号。数学去卷积过程从检测器信号中检索具有改进的信噪比的频谱。