| 用于质谱分析的双向系统 |
| EP06736280 2006-2-28 发明申请 |
| 2007-11-14 |
| 本发明涉及一种用于质谱分析(100)的系统和方法，其允许将带电粒子的集合双向引入质谱仪的磁场中。 更具体地说， 本发明包括质谱分析系统(100)(例如， 一种具有圆柱形磁体(101)的FTMS质谱仪，该圆柱形磁体(101)被配置为接收和测量从其两个轴向端部中的任一个引入(102, 103)到圆柱形磁体(101)中的带电粒子的回旋频率(104)。 本发明的方法涉及对带电粒子的集合进行质谱分析，所述带电粒子的集合从圆柱形磁体(101)的相对的轴向端部连续地，同时地或同时地引入(102, 103)到圆柱形磁体中。 本发明通过例如在第一检测器的离子处理时间期间允许在与第二检测器相反的方向上流动，相对于目前可用的装置显示出显著增加的磁体通过量。 |
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