| 质谱仪和质量分析方法 |
| US11325444 2006-1-5 发明申请 |
| 2006-10-5 |
| 本发明提供一种能够快速地进行电荷分离和离子迁移率分离，并且能够以高占空比进行测量的线性阱。 一种质谱仪，包括离子源，用于俘获由离子源电离的离子的离子阱，用于控制包括在离子阱中的电极上的电压的离子阱控制器，以及用于检测从离子阱射出的离子的检测器。 所述离子阱控制器包括用于每个质量-电荷比的表，所述表包含用于电荷分离的电压的频率，以及用于将具有第一电荷的第一离子喷射到所述离子阱外部并将具有低于所述第一电荷的第二电荷的第二组离子保持在所述离子阱中的电压的增益。 所述离子阱控制器基于所述质荷比设置来控制所述电压。 与现有技术相比，该质谱仪具有显著提高的灵敏度。 |
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