| 用于微量样品取样探头 |
| JP2006174726 2006-6-26 发明申请 |
| 2008-1-10 |
| 要解决的问题 : 以进行污染无质量分析的采样几个μm的微异物即成为导致的装置故障或该等。溶液 : 所述采样和微异物的加热可以通过执行所述相同的探针通过提供一种局部加热机构到所述所述探针的前端部，用于采样所述微-异物的几个μm。由于该探针可以被直接安装在一质谱仪，无污染的分析可以被执行。此外，通过只加热所述的异物所述探针的前端部，所述以外的部分所述前端部的所述探头将不被加热，即使如果污染物粘附到部分，其它比所述所述探针的前端部，和一质量光谱，其是在s\/N比可以获得令人满意的。版权 : (C)2008，inpit |
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