用于测定低聚物序列的质量缺陷标记
 
US10913020  2004-8-6  发明申请

2006-4-6
 
  本发明提供了质量标记方法,其导致比其它方法更高的质谱仪检测灵敏度和分子鉴别。 具体地,所述方法可用于从质谱中的化学噪声中区分标记分子和分子片段。 这些质量标记方法可用于寡聚体测序,测定来自不同样品的分子的相对丰度,以及鉴定组合化学文库中的单个分子或化学处理步骤。 所提供的方法可用于通过质谱法同时分析多分子和反应混合物。
 
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