| 颗粒分析仪 |
| JP2006141713 2006-5-22 发明申请 |
| 2007-11-29 |
| 要解决的问题 : 以可靠地照射离子化的激光以颗粒，同时该结构是简单，并以防止错误所述激光的照射。溶液 : 该分析仪是装备有一颗粒-移动装置2用于移动颗粒，其被测量对象到一规定的方向，一光源31用于照射检查光L向所述粒子S，一个光检测器32用于检测散射的光LS通过该检查光的照射产生的L，一种颗粒尺寸计算部分61用于接收一从所述光电检测器32输出的光强度信号和计算该基于所述粒子的粒子尺寸S在所述的光强度信号的所述值，一个离子化部4用于照射能量束EL，从相反的方向以所述移动方向相对于所述颗粒S，以其所述的检查光L被照射和然后电离所述粒子S，和一质量光谱仪部分5用于进行离子化质谱分析在所述的颗粒。所述质量光谱仪部5是配备有一用于接收所述的光强度照射定时确定部分63信号从所述光电检测器32，和确定所述能量束所照射的定时EL，通过使用该时间波形所述的信号作为一个参数。版权 : (C)2008，inpit |
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