质量分析仪
 
WOJP06304609  2006-3-9  发明申请

2007-9-13
 
  本发明提供了一种质量分析仪提供与一个离子源包括一个灯丝(3)。所述用于产生热电子的灯丝(3)是两个支柱之间安装(10),(11)。所述比所述线之间的所述灯丝的直径B(3)和所述的中心-中心间隔一个所述两个支柱(10),(11),I。E。,B\/一个,被设置到所述的范围中的一个值0.025至0.032,和所述数量之间的比所述的绕组C的灯丝(3)和所述上方间隔开,I。E。,C\/一,在该范围被设定为一个值的0.6至1.0。根据上述结构,同时抑制所述的逃生所述灯丝的热量通过所述支柱,所述刚性所述灯丝的可增强和,因此,该灯丝,即使当暴露于磁场的作用,是不太可能被弯曲。进一步,所述的抑制扩散的热量可以实现一个区域内的所述灯丝的展宽,其中所述温度被升高到一升高的温度,由此所述灯丝内的一特定站点的密集的消耗可以被消除。因此,所述灯丝是不太可能发生的断裂,和所述服务寿命可以延长。
 
仿站