| 设备和方法用于高局部质谱分析和成像 |
| WOCH06000117 2006-2-23 发明申请 |
| 2006-8-31 |
| 一种装置和方法用于局部质谱分析的样品表面(204)被公开。该装置包括一个光学系统，最好是一个扫描近场光学显微术(snom)设置(2)，其用于烧蚀样品从所述样品表面原子\/分子具有高空间分辨率，优选在大气压力。这些被传送到一离子阱(410)通过合适的转印装置(5)，有利地通过一传输管通过一压力差的作用。所述原子\/分子被电离，优选通过化学电离，并积累在所述离子阱(410)。在一足够数量的离子已经累积，它们是由一个质量分析仪进行分析(3)，优选的所述时间--飞行的类型。 |
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