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产业专利数据

质量分析装置和质量分析方法

US10690750 2003-10-23 发明申请

2004-5-13

一种质谱分析设备，包括 : 第一离子源，其电离样品并产生样品离子；第二离子源，其产生具有与样品离子极性相反极性的反应物离子；以及质谱仪，其中所述第二离子源设置在所述第一离子源和所述质谱仪之间，远离从所述第一离子源排出的样品离子流的轴线，并将反应物离子发射到从所述第一离子源排出的样品离子流。