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用于质谱仪诊断的方法和装置

US11333745 2006-1-17 发明申请

2007-7-19

一种质谱仪系统，包括暴露于污染的内表面和光学传感器组件，所述光学传感器组件定位成监测来自所述内表面的光辐射的反射。一种确定质谱仪内的内表面的污染水平的方法，包括用光辐射照射内表面，在照射时检测从内表面反射的光辐射，基于检测到的光辐射确定内表面的反射率值，以及基于反射率值确定污染水平。