| 离子阱质谱和装置。 |
| JP2005376853 2005-12-28 发明申请 |
| 2007-7-12 |
| 要解决的问题 : 以提供一种离子阱质谱仪，其质量数-电荷比的范围中在所述碰撞引起的解离操作的时间被放大，使得所述碰撞引起的解离的操作中的缺陷该离子阱质谱仪可以被克服，和一个样品中的许多结构信息可被获取。溶液 : 在所述离子阱碰撞引起的解离操作，多个数量的不同的操作的主高频率电压被进行，其被操作以围绕所述的中间区域0.3中的碎片离子捕获Qz值，一个操作适合用于捕获片段高的质量的离子数量-电荷比的大约0.5到0.8Qz值，和一个操作适合用于捕获低质量的离子数量-电荷比的设定所述MS\/MS光谱的最低极限值，然后该强度是集成用于所述质量数-电荷比获得的关于各自的光谱。版权 : (C)2007，inpit |
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