| 质谱仪 |
| US11122063 2005-5-5 发明申请 |
| 2005-11-10 |
| 在本发明的质谱仪中，首先在回路轨道的每一圈测量已知离子的飞行时间长度。 理想的是，每一个转弯处的飞行时间长度等于基于离子的速度和回路轨道的路径长度计算的一个，但是实际飞行时间长度以可再现的方式偏离它。 因此，在本发明中，偏差信息每转一次都存储在校正存储器中。 在测量未知离子时，使所述未知离子以预定次数飞行所述回路轨道。 接着，测量使环路轨道飞行预定圈数的未知离子的飞行时间，并且使用存储在校正存储器中的校正数据校正在圈处的飞行时间的偏差。 基于校正的飞行时间计算未知离子的质荷比。 因此，消除了实际飞行时间与理论或理想飞行时间的偏差，并且计算的质量/电荷比变得更精确。 |
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