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对来自质谱仪的数据的分析

US11277134 2006-3-21 发明申请

2006-10-5

一种编程计算机分析来自质谱仪的数据。以各种方式扰动对应于未知样品的光谱，并且将每个扰动的光谱与已知或参考物质的光谱进行比较。与已知光谱具有最高相关性并且在物理上也是可能的扰动光谱被认为是最佳拟合。所述方法指示未知样品以何种特定方式不同于或类似于已知物质。