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产业专利数据

使用漂移单元交替高和低电场区域的离子迁移率TOF/MALDI/MS

US11342716 2006-1-30 发明申请

2006-8-31

用于离子迁移率漂移单元的改进的离子聚焦允许用于后续检测例如质量检测的改进的吞吐量。通过在离子迁移漂移池中使用高电场和低电场的交替区域来实现改进的聚焦。