| 对质谱仪飞行管长度的测量变化进行补偿 |
| US11333744 2006-1-17 发明授权 |
| 2007-2-27 |
| 一种质谱仪系统，包括具有工作长度的飞行管， 一个用于测量飞行管纵向长度变化的测量装置，一个用于补偿测量的纵向飞行管长度变化的装置，以及一个位于飞行管下游端附近的检测器。 所述测量装置包括光学干涉仪，并且可以具体地包括迈克尔逊干涉仪。 在第一实施例中，质谱仪系统包括耦合到测量装置和检测器的致动器，用于沿纵向移动检测器，以补偿操作飞行管长度中的测量变化。 在第二实施例中，质谱仪系统包括耦合到测量装置的处理器，所述测量装置被配置为计算分析物离子的质量与电荷比。 所述处理器被配置为使用所测量的操作飞行管长度的变化来修改分析物离子质量对电荷比的计算。 |
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