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产业专利数据

质谱分析和质谱分析系统

US11143717 2005-6-3 发明申请

2005-12-15

在用串联质谱仪测量用同位素标记的样品的方法中，提高了测量通量。在串联质谱仪用于分析用同位素标记的样品的技术中，在测量会话期间实时分析通过第一级测量(MS1)获得的光谱，以确定用于第二级和随后的解离光谱测量(MS2)的离子。