| 同时检测同位素比值质谱仪 |
| JP2003147515 2003-5-26 发明授权 |
| 2006-11-1 |
| 本发明包括质谱仪1的质谱测定法和方法尤其可用于测量所述在存在氢同位素组成的氦载气。干扰精确测量小HD的峰值在质量-电荷比由3大得多的He峰的质量-电荷比4通过提供降低的能量过滤器35中的离子检测器组件，用于采集HD离子。这防止了离子的He具有通过散射损失的能量，等引起从HD信号检测器和氘氢同位素比失真测量。这种质谱分析仪1典型地用于结合连续流入口基于系统4它将氢元素分析仪样品中存在的流中的氢气，氦载气。本发明的另一实施例提供了一种类似的质谱仪可用于碳或氧同位素二氧化碳确定气体。 |
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