| 飞行时间质谱仪 |
| US10925192 2004-8-24 发明申请 |
| 2005-2-3 |
| 质谱分析装置105包括离子源110，第一飞行时间装置，无场区域120，分子碎片装置，第二飞行时间装置和大面积检测器160的串联布置。 所述第二飞行时间装置包括离子镜150，所述离子镜150被布置成产生反射的基本上二次场。 所述第一飞行时间装置被设置为在离子镜150的入口处或入口处附近提供伴随离子的时间聚焦的空间聚焦。 提供用于在第一飞行时间装置之前破碎离子的装置可以是碰撞单元140，或者在无场区域220中，或者在第一飞行时间装置中。 使分子碎裂的装置具有与离子镜150入口处的电位不同的电位，并且检测器160的检测表面安装在离子镜150的时间焦点表面中。 |
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