| 在质谱仪中对准离子光学器件的方法和装置 |
| US10649586 2003-8-26 发明申请 |
| 2005-3-3 |
| 包括计算机程序产品，质谱系统和用于这种系统的样品板的方法和装置实现了用于校准离子源的技术，所述离子源包括样品控制系统，所述样品控制系统包括样品保持器和激光源。 在样品架中安装样品板，并且确定样品板的坐标系和样品控制系统的坐标系之间的关系。 所述关系用于将样品板的目标区域与质谱分析用质谱仪的离子光学对准。 所述关系至少部分地通过相对于样品控制系统的基准点对准一个或多个基准来确定。 基准定义样品板坐标系的参考点。 所述技术可用于促进涉及部分或完全自动化的过程。 |
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