| 检测颗粒尺寸和荧光的分析系统 |
| US10602178 2003-6-24 发明申请 |
| 2004-3-25 |
| 本发明公开了具有荧光检测的颗粒分析系统，主要涉及基于散射光强度或飞行时间测量的颗粒尺寸。 在一个系统中，荧光的发射被用作选择用于进一步分析，例如质谱分析的颗粒的阈值。 在另一个实施例中，沿气溶胶路径顺序排列的激光束被选择性地接通和断开，以增加部件的使用寿命，并减小几个信号之间干扰的可能性。 其它实施例有利地在空气动力学颗粒尺寸中使用颜色鉴别，定位成感测散射和发射的荧光辐射两者的单个检测器，以及激光束幅度或增益控制以增强荧光检测的范围。 |
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