质谱和分光镜的质量
 
JP2004057750  2004-3-2  发明申请

2005-9-15
 
  要解决的问题 : 提供一种新颖的质谱分析,能够测量所述的细颗粒的质量的分子或该等,具有非常高分子量,和以提供一个质量分析仪。溶液 : 一磁场梯度是形成一个空间中,以允许细颗粒飞入所述空间和通过该磁场引起的磁性力梯度是由作用于所述细颗粒。随后,该速度和加速度,由于所述细颗粒被测量的所述的磁性力,和所述质量所述细颗粒被测量的从它们的速度和加速度。
 
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