质谱分析装置,质谱分析方法,和质谱分析程序
 
WOJP05010471  2005-6-8  发明申请

2005-12-22
 
  本发明提供了一种质谱分析装置,一质谱分析方法,和质谱分析程序能够准确地分析的质谱。所述质量光谱装置进行分析,质谱测得的用于多个采样的。该质量光谱装置包括 : 峰值位置检测装置(14)用于检测峰值位置,其中所述质谱是在其峰值; 和重合度计算装置(15)用于计算所包含的所述峰值根据该号码的一致度在一个窗口,其中所述峰值位置具有一用于所述质量数量的宽度在多个的质谱。
 
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