| 自动在过程同位素和质谱分析 |
| HK05105825.5 2005-7-11 发明申请 |
| 2005-9-30 |
| [CN1575195A]本发明公开了使用同位素稀释质谱分析法的修 改型来在过程自动分析的一种方法和相关装置。它涉及元素和 物质形成阈值测量，该测量为定量仪器检测极限及附近的质量 保证而优化，并且能够在定量仪器检测极限及附近执行。该系 统是自动的，并且可以用于无人操作来进行元素或物质污染物 鉴定和定量。在该方法的优选方面，样本与至少一种添加浓缩 稳定同位素元素或物质达到平衡(38)，之后在大气离子产生器 中进行电离(32)并且由微处理器处理，其通过控制器(20)协调样 本和添加物的输送和平衡的操作，以及大气离子产生器和质谱 分析仪(36)的操作。可选地，该方法可以定性地使用。 |
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