产业集群信息网

产业专利数据

分子量测定装置

US11005259 2004-12-6 发明申请

2005-7-14

本发明涉及一种用于分子和包括聚合物的大分子的直接质量分析的设备和方法，所述设备和方法使用从耦合到飞行时间质谱仪(TOF-MS)的分析物电喷雾产生的电荷减少的气相分析物离子。按照本发明分析的分子和大分子，包括聚合物，包括重均分子量在1千道尔顿(kd)和500000kd之间的水溶性和水不溶性聚合物。