| 质量光谱仪组件质谱分析真空室盖组件和质量光谱仪操作方法 |
| WOUS04001144 2004-1-16 发明申请 |
| 2004-8-5 |
| 一质量光谱仪组件的一个实施例包括一底座的至少一部分被配置以定义一个真空腔室的体积; 一质量所述真空室的体积内的隔板部件; 一盖耦合到所述质量分离器组件和与相对配置成可拆卸地可操作地耦合到所述基; 和其中所述盖被配置以被定位在一第一可操作位置，以形成一气密密封与所述基座和所述真空室的体积内提供所述质量分离器组件和第二可操作位置。所述盖的至少一部分被间隔开的从所述基座和所述质量分离器组件是至少部分地除去从所述真空室的体积内。质量光谱仪操作方法被提供，其可以包括至少部分地除去所述盖从所述基，其中该去除所述盖还至少部分地除去所述质量的隔板部件从所述真空室的体积; 和与所述质量检查所述质量分离器组件分离器从所述真空室的体积成分除去。 |
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