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质谱光谱校正
GB0422308 2004-10-7 发明申请
2004-11-10
系统和方法用于校正谱质谱仪中的歪斜通过优化用于质谱的质谱仪性能参数,产生测量的光谱已知的参考化合物,比较所测得的光谱与已知的光谱已知参考化合物,从比较产生校正功能,和使用所述校正功能校正后来的上扫描质谱仪。本发明涉及使用软件校正的光谱(信号处理)以匹配任何参考质谱响应范例(例如,扇形磁场Instruments)。通过将软件校正,质谱仪的性能然后可以独立地优化,从而产生系统的整体性能更好。
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