| 分析系统检测粒子尺寸和荧光 |
| KR1020047021149 2004-12-24 发明申请 |
| 2005-3-9 |
| 颗粒与荧光检测被公开分析系统，主要基于散射光强度与颗粒尺寸在连接或时间--飞行的测量。一个系统中，发射荧光是作为一个阈值的用于选择颗粒用于进一步分析，例如质谱。在另一实施例中，激光束(108，112)设置顺序地沿一气溶胶路径被有选择地切换在和关断，以增加该成分有用的寿命，并减少该电位用于几个信号之间的干扰。其它实施例有利地使用颜色鉴别的空气动力学粒子的浆料中，单个检测器(82，98)设置为感测两个散射并发出荧光辐射，和激光束的幅值或增益控制，以增强所述范围的荧光检测。kipo&wipo2007 |
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