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基于多孔聚合物整体的MALDI分析用基质

US10866225 2004-6-9 发明申请

2005-2-3

本发明描述了多孔整体基质用于基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱分析怀疑含有分析物的样品的用途。所述多孔聚合物整体提供适合用于检测和分析低分子量和小分子的基质。本文所述的基质还有助于形成用于使用MALDI-TOF质谱法进行高通量检测和筛选的单片基质阵列，并显示出长的保质期。