| 分析系统检测颗粒的尺寸和荧光 |
| GB0428330 2003-6-24 发明申请 |
| 2005-2-2 |
| 本发明公开了颗粒分析系统荧光检测，主要在连接粒子定型基于散射光的强度或飞行的时间测量。在一个系统中，荧光发射作为阈值选择颗粒进行进一步的分析，例如质谱分析。在另一实施例中，激光束依次设置的沿气溶胶路径被选择性地接通和断开，增加部件的使用寿命，和多个信号之间的干扰的可能性减小。其它实施例有利地使用空气动力学颗粒中的颜色辨别施胶，单检测器定位成感测散射和发射的荧光辐射，和激光光束振幅或增益控制以提高荧光检测的范围。 |
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