| 同时检测反射和直接离子的质谱仪 |
| US10480243 2003-12-9 发明申请 |
| 2004-10-21 |
| 本发明涉及用于同时检测飞行时间管(120)和用于产生样品离子的离子束并将离子束引入飞行管的第一部分的源(110)中的直接和反射离子的技术。 反射器(126)反射来自飞行管的第二部分中的离子束的离子。 基本上垂直于离子束轴线的板(140)位于飞行管的第一部分和飞行管的第二部分之间。 所述板具有孔，所述离子束中的一些离子可以通过所述孔从所述飞行管的所述第一部分通过所述孔到达所述第二部分。 所述板的两个相对表面中的每一个包括一组一个或多个离子检测器(140)。 所述技术允许快速，可靠地检测少量样品中的络合剂。 |
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