在MALDI靶标准方法用于优化所述的位置,用于质谱
 
EP03722499  2003-4-16  发明申请

2005-1-12
 
  本发明涉及领域的分子质量测量的时间--飞行的质量光谱仪,其中所述分析物的电离物质通过基质辅助激光吸收产生的是(maldi)。用于所述校正的方法基于所使用的外部标准的飞行时间值被提供,和在用于确定特定的方法,给定一个MALDI靶,该校准标准质量的最佳位置被描述。
 
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