具有低温粒子探测器的四极离子阱质谱仪
 
US10347988  2003-1-20  发明授权

2004-3-23
 
  本发明涉及一种四极离子阱质谱仪,该质谱仪通过使用低温粒子检测器作为分子检测器来提高对大分子的灵敏度。 低温粒子检测器具有与质量无关的检测效率,并且与在普通四极离子阱质谱仪中使用的电离检测器相比,没有显示出用于增加分子质量的检测效率的降低。
 
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