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芯片用于质谱，和激光解吸电离-飞行时间质谱仪和质谱分析使用相同的系统

WOJP03015032 2003-11-25 发明申请

2004-6-17

一个孔(103)被形成在一衬底(101)通过刻蚀或该等。一种样品溶液被滴入到所述孔(103)，和一个干燥的样品是获得。所述作为-干燥获得的样品进行到LDI-TOFMS测量在一起，与所述基板(101)。