扫描探针显微镜和使用扫描探针显微镜测量物理量的方法
 
WOJP18029917  2018-8-9  发明申请

2020-2-13
 
  该扫描探针显微镜(50)包括探针(20), 用于支撑探针(20)的悬臂,其上放置有样品(S)的扫描仪(43),用于改变样品(S)和探针(20)之间距离的驱动单元(4),以及用于测量悬臂(2)位移的位移测量单元(3)。 扫描探针显微镜(50)具备 : 曲线生成部(11),生成表示探针(20)与接近探针(20)时的探针(20)与试样(S)之间的距离与表示悬臂(2)的位移的量的关系的第一曲线;以及第二曲线生成部,生成表示悬臂的位移的量的第二曲线。 表示试样(S)离开探针(20)时的探针(20)与试样(S)之间的距离与表示悬臂(2)的位移量的关系的曲线,以及物理量计算部(53), 作为样品的物理量,表示第一曲线和第二曲线之间的面积的量。
 
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