| 质谱仪 |
| US10446079 2003-5-28 发明申请 |
| 2003-12-4 |
| 在飞行时间质谱仪中，在低真空室中的四极离子阱中积累离子后，离子被射出并转移到高真空室中，并在垂直于离子行进方向的方向上被加速电极加速，并测量加速离子的飞行时间。 利用数据处理单元计算检测到的离子的总含量。 基于所获得的总离子含量，将离子引入离子阱的时间和总离子含量的预设阈值来确定用于下一操作的离子引入时间。 总离子含量的阈值被设置成使得从离子阱中喷出的离子能够通过形成在隔壁中的狭缝，该狭缝用于分隔低真空室和高真空室。 |
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