| 改进的使用方法的离子阱质谱仪 |
| JP2003145488 2003-5-22 发明申请 |
| 2004-1-8 |
| 使用一种离子阱质谱仪的改进的方法，其中交流电压的补充到所述交流陷入电压被用于用于扫描所述阱(10)，用于进行化学电离实验，并用于导电MS实验，分别示出。在一个实施例的一宽带补充交流电压被施加到去除所述阱的离子的上方或下方一预选的切断质量。这特别有用的用于消除高的质量进行化学电离实验样品中的离子，其被形成在所述试剂通过电子冲击离子化气体被离子化。同样地，这种技术可以被用于消除低质量的试剂当离子导电的电子冲击离子化实验在所述存在的试剂气体。在另一实施例中一非谐振，低频率附加电压被施加到所述阱(10)使俘获离子，以进行碰撞引起的解离。多代的离子的片段可以被同时形成这种方式中，从而使MS实验。该低频率的补充领域具有所述的附加引起高的性能质量要喷射的离子从所述阱(10)作为所述的功能所补充的电压大小。这种特性可以被用于扫描所述阱(10)，例如，通过扫描所述幅度的所述补充电压。同样，当进行化学电离实验，该特性可以被用于消除不需要的高的质量样品离子，形成在所述试剂的电离气体，从所述阱(10)。 |
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