| 一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法 |
| CN201911015036.6 2019-10-23 发明申请 |
| 2020-2-11 |
| 本发明属于共聚焦显微镜成像技术领域，一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度?寿命分布图；从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；由荧光强度?寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。 |
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