| 使用探针束偏转技术(PBDT)的扫描显微镜 |
| US16058466 2018-8-8 发明授权 |
| 2020-2-11 |
| 通过检测透射通过半透明介质的探测光束中的偏转和/或偏振偏移来成像半透明介质中的变化。 可以使用位于探测光束发生器和半透明介质之间的第一偏振滤光器来检测偏转和偏振偏移，以在第一方向上偏振探测光束， 分束器，其被定位成在探测光束被透射通过介质之后接收探测光束；以及探测光束偏转检测器，其接收第一分束光束并提供与介质中的折射率变化相关联的偏转信号。 第二偏振滤光器接收第二分束光束并在垂直于第一方向的第二方向上偏振该第二分束光束。 强度传感器在第二分束通过第二偏振滤光器之后接收第二分束，并提供与介质中的偏振偏移相关联的强度信号。 |
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