| 包括检测特征X射线的光谱仪的X射线分析装置及相关X射线分析方法 |
| US17188619 2021-3-1 发明授权 |
| 2023-8-29 |
| 提供一种能够容易地分析试样中的目标元素的化合价的X射线分析装置和X射线分析方法。 X射线分析装置的信号处理装置的控制部22具备：存储部360，其存储基于从金属单质发射的kα1X射线的峰值能量和kα2X射线的峰值能量、从包含金属单质的两种以上的化合物各自发射的kα1X射线的峰值能量和kα2X射线的峰值能量、以及两种以上的化合物各自的金属的价数而生成的校正曲线； 处理单元302，其被配置为获取从未知样品中包含的金属发射的金属的k α 1 X射线的峰值能量和k α 2 X射线的峰值能量； 以及计算部308，通过将得到的k α 1 X射线的峰值能量和k α 2 X射线的峰值能量应用于校正曲线，计算未知试样中所含的金属的平均化合价。 |
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