| 一种基于子谱解调反演结构频率的超分辨显微成像方法 |
| CN202310989076.0 2023-8-8 发明申请 |
| 2023-11-24 |
| 本发明公开了一种基于子谱解调反演结构频率的超分辨显微成像方法，利用可见光宽光谱光源照明，通过小数值孔径显微成像物镜聚焦，由大带宽光谱仪采集待测样品背向散射信号，获取相应的宽光谱数据。对原始宽光谱数据进行光谱去噪、背景光移除，提高信噪比，然后进行波长重采样、频域线性化等处理，将光谱分为N段，通过二维离散傅里叶变换，计算得到各子谱时域幅值分布，实现纵向结构的超高灵敏度差异解析。利用不同样品结构在同一深度范围内的纵向结构差异高灵敏度解析来反映横向结构形态，通过解析焦平面上相邻两点的主导空间频率差异，实现横向结构的高精度定位，进而实现超分辨显微成像。解决了显微成像分辨率和视场相互制约的技术问题。 |
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