| 用波长色散x射线荧光光谱仪确定试验样本中质量分数的系统和方法 |
| CN202310539655.5 2023-5-12 发明申请 |
| 2023-11-14 |
| 本发明公开了用于基于通过波长色散X射线荧光光谱仪进行的测量来确定试验样本中的一种或多种元素的质量分数的系统、方法和计算机程序产品，该WDX光谱仪测量与该试验样本中具有待确定质量分数的相应元素相关联的总强度。质量分数模块通过使用校准公式以该相应测量的总强度和相应计算的散射效率作为输入来确定质量分数。通过以下任一方式来确定该试验样本的该元素组成：经由迭代模块，该迭代模块适于基于与该试验样本中的元素相关联的所测量的总强度来迭代地确定该特定元素组成的质量分数估计；或者经由EDX量化模块，该EDX量化模块适于使用能量色散X射线检测器根据量化获得该特定元素组成的质量分数估计。 |
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