产业集群信息网

产业专利数据

实验室晶体学X射线衍射分析系统

WOUS22033771 2022-6-16 检索报告

2023-11-16

一种用于对象的三维晶体学晶粒取向映射的方法和系统。在不同的示例中，使用以不同的角度与对象相互作用的子光束。其它选择包括在光栅扫描期间以不同的角度摆动对象。可以执行多次扫描，包括光栅扫描和定向分析。此外，可以采用不同的孔。在实施例中，加入色散光谱(EDS)检测器来分析衍射光子的能量。