| 一种快速成像光谱测量系统及方法 |
| CN202311530766.6 2023-11-16 发明申请 |
| 2024-1-30 |
| 本发明涉及一种快速成像光谱测量系统及方法，测量系统包括成像物镜、微透镜面阵列、光纤束、光纤支架、透镜线阵列、柱面透镜线阵列、干涉光谱仪和数据处理系统。成像物镜对目标进行成像，微透镜面阵列将一次像面分割为N个子像面，透镜线阵列和柱面透镜线阵列对光纤线阵列的输出光线整形，并输出至干涉光谱仪得到相应干涉信息，每个柱面透镜线阵列对应一个干涉光谱仪，多个干涉光谱仪同时对相对应柱面透镜线阵列的输出光进行处理得到所有光纤的干涉信息，通过数据处理系统处理得到目标完整的光谱数据立方体。该系统利用光纤束与透镜阵列将像面拆分，将高维数据转换为低维数据，实现一次短曝光获得大信息量的数据立方体，提高成像光谱测量速度。 |
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