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X射线荧光光谱仪

JP2022536010 2020-7-14 发明授权

2024-1-17

X射线荧光分析装置具备对试样照射X射线的X射线源、检测由于X射线照射而从试样发出的荧光X射线的检测器、和收纳试样的钢制试样室。样品室的内表面的至少一部分涂覆有由来自熔融铝的铝制成的层，或者样品室的内表面的基本上整个表面涂覆有由来自熔融铝的铝制成的层。