先进的X射线发射光谱仪
 
US17692994  2022-3-11  发明申请

2023-9-14
 
  光谱系统需要具有用于分析样品的光谱的特定性质的晶体,其通常用于一次测量一种元素的存在。 用于执行同时光谱测量的二维(2D)晶体安装件包括具有多排晶体安装件的晶体夹持器。 每个晶体安装座被定位和定向成在相对于光轴的固定位置和固定定向处物理地支撑晶体。 样品向设置在晶体安装件中的分析器晶体提供辐射,并且检测器可以检测从分析器晶体反射的辐射,用于执行多个同时的光谱测量。
 
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