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X射线荧光光谱仪

EP21897459 2021-9-14 发明申请

2023-10-4

本发明的荧光X射线分析装置所具有的计数时间计算部(13)根据规定的X射线强度的总精度、给定的计数损失校正系数、和作为进行计数损失校正前的强度的未校正强度的精度与相对于该未校正强度的校正强度的梯度的乘积，计算计数时间。以及每条测量线(5)的给定校正强度。