| 用于改进测量由波长色散X射线荧光光谱仪获得的脉冲高度谱中的峰强度的系统和方法 |
| EP22154483 2022-2-1 发明授权 |
| 2023-12-27 |
| 公开了用于估计由波长色散x射线荧光光谱仪获得的脉冲高度光谱中的峰值强度的系统(100)、方法和计算机程序产品。 通过波长色散X射线荧光光谱仪(200)的多通道分析器(203)从样品(202)获得脉冲高度光谱(212)。 模型生成器(120)通过在与光谱仪(200)的单色器(203)的相应衍射级相对应的光子能量位置处创建具有预定义轮廓形状的多个衍射级轮廓来生成脉冲高度光谱模型(112)。 对于其中相应的光子能量高于检测器的检测器材料的边缘能量的每个创建的衍射级分布，添加相应的逃逸分布。 模型调整模块(130)使用拟合算法(FA1)调整脉冲高度谱模型的每个衍射级轮廓集合的脉冲高度到能量映射参数和贡献区域，以最小化脉冲高度谱模型(112)和测量脉冲高度谱(212)之间的差异。 强度模块(140)提供一阶轮廓集合的贡献区域作为待由波长色散X射线荧光光谱仪(200)确定的能量的强度(El1)。 |
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