| 光电性能检测分析设备和方法 |
| CN202311331800.7 2023-10-16 发明申请 |
| 2023-11-17 |
| 本申请涉及光电检测技术领域，其具体地公开了一种光电性能检测分析设备，包括测试槽、电化学工作站、光谱仪和分析模块，测试槽用于注入导电的第一溶液，测试槽上具有第一光线入口和第一光线出口；电化学工作站上具有工作电极、参比电极和对电极，在被测对象为薄膜材料时，工作电极的材料采用薄膜材料，电化学工作站基于工作电极、参比电极、对电极测量经过薄膜材料的第一电流；光谱仪具有光源，光源可设置在第一光线入口处，光源发射的光线进入第一光线入口，经薄膜材料透射或反射后从第一光线出口射出，光谱仪计算薄膜材料的透光率；分析模块，计算薄膜材料的光学性能与电学性能相关性模型。本发明可计算薄膜材料的光学性能和电学性能的相关性。 |
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