| 一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法 |
| CN201910955872.6 2019-10-9 发明申请 |
| 2020-1-3 |
| 本发明提供了一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法，包括扫描探针显微镜平台、具有导电性、导热性与磁性的探针，以及热学回路；首先，接触式探测样品表面形貌，同时热学回路闭合，探测样品的热信号；然后，采用非接触式探测样品的磁信号。与现有技术中通过三次扫描、其中两次为先后采用非接触式扫描得到磁信号和接触式扫描得到热信号相比，该方法简单易行，探测时间缩短，保护了探针与样品表面，同时由于扫描次数减少避免了样品位移偏差而导致的探测精度减小的问题。 |
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